Электрон микроскоп тапшыру (TEM) - микрофизик структураны анализлау техникасы, электрон нур нигезендә яктылык чыганагы, максималь резолюциясе якынча 0,1нм.TEM технологиясенең барлыкка килүе кешеләрнең микроскопик структураларны күз белән карау чикләрен шактый яхшыртты, һәм ярымүткәргеч өлкәсендә алыштыргысыз микроскопик күзәтү җайланмасы, шулай ук процесс тикшеренүләре һәм үсеш, массакүләм җитештерү процессын мониторинглау, процесс өчен алыштыргысыз җиһаз. ярымүткәргеч кырында аномалия анализы.
TEM ярымүткәргеч өлкәсендә бик күп кушымталарга ия, мәсәлән, вафер җитештерү процессын анализлау, чип җитешсезлеген анализлау, чипның кире анализы, каплау һәм ярымүткәргеч процесс анализы һ.б. чип дизайн компанияләре, ярымүткәргеч җиһазларны тикшерү һәм үстерү, материаль тикшеренүләр һәм үсеш, университет тикшеренү институтлары һ.б.
GRGTEST TEM Техник коллективның мөмкинлекләрен кертү
TEM техник коллективын доктор Чен Чжэн җитәкли, һәм коллективның техник таянычы тармакларда 5 елдан артык тәҗрибәсе бар.Аларның TEM нәтиҗәләрен анализлауда бай тәҗрибәсе генә түгел, FIB үрнәген әзерләүдә дә бай тәҗрибәсе бар, һәм 7нм һәм аннан да өстенлекле процесс ваферларын һәм төрле ярымүткәргеч җайланмаларның төп структураларын анализлау сәләте бар.Хәзерге вакытта, безнең клиентлар бөтен ил буенча беренче фаблар, төрү заводлары, чип дизайн компанияләре, югары уку йортлары һәм фәнни тикшеренү институтлары һ.б., һәм клиентлар тарафыннан киң таныла.
Пост вакыты: 13-2024 апрель