Микроанализ техникасы өчен мөһим җиһазлар: оптик микроскопия (ОМ), электрон микроскопия (DB-FIB), электрон микроскопия (SEM) һәм электрон микроскопия тапшыру (TEM).Бүгенге мәкалә DB-FIB принцибы һәм кулланылышы белән таныштырачак, төп игътибар DB-FIB радио һәм телевидение метрологиясенең хезмәт итү мөмкинлегенә һәм ярымүткәргеч анализда DB-FIB куллануына.
DB-FIB нәрсә ул
Ике нурлы сканерлау электрон микроскопы (DB-FIB) - фокусланган ион нурын һәм электрон нурны бер микроскопта берләштерә торган корал, һәм күп функцияләргә ирешү өчен газ кертү системасы (GIS) һәм наноманипулятор кебек аксессуарлар белән җиһазландырылган. эфирлау, материалны чүпләү, микро һәм нано эшкәртү кебек.
Алар арасында фокусланган ион нуры (FIB) сыек галий металл (Ga) ион чыганагы тудырган ион нурын тизләтә, аннары икенчел электрон сигналлар чыгару өчен үрнәк өслегенә юнәлтелә һәм детектор тарафыннан җыела.Яисә микро һәм нано эшкәртү өчен үрнәк өслеген чыгару өчен көчле ток ион нурын кулланыгыз.Физик бөтерелү һәм химик газ реакцияләренең комбинациясе шулай ук металл һәм изоляторны сайлап алу яки урнаштыру өчен кулланылырга мөмкин.
DB-FIB төп функцияләре һәм кулланмалары
Төп функцияләр: тоташ нокта кисемтәләрен эшкәртү, TEM үрнәген әзерләү, сайлап алынган яки көчәйтелгән эфирлау, металл материалны чүпләү һәм изоляция катламы.
Куллану кыры: DB-FIB керамик материалларда, полимерларда, металл материалларда, биологиядә, ярымүткәргечтә, геологиядә һәм башка тикшеренү өлкәләрендә һәм продуктны сынауда киң кулланыла.Аерым алганда, DB-FIBның уникаль тотрыклы нокта тапшыру үрнәген әзерләү мөмкинлеге аны ярымүткәргеч җитешсезлеген анализлау мөмкинлегендә алыштыргысыз итә.
GRGTEST DB-FIB хезмәт күрсәтү мөмкинлеге
DB-FIB хәзерге вакытта Шанхай IC тест һәм анализ лабораториясе белән җиһазландырылган, Helios G5 термо кыры сериясе, ул базарда иң алдынгы Ga-FIB сериясе.Серия 1 нм астындагы электрон нур сүрәтләү сканерларына ирешә ала, һәм ике нурлы электрон микроскопиянең алдагы буынына караганда ион нурлары җитештерү һәм автоматлаштыру ягыннан оптимальләштерелгән.DB-FIB наноманипуляторлар, газ кертү системалары (GIS) һәм EDX энергия спектры белән җиһазландырылган, төрле төп һәм алдынгы ярымүткәргеч җитешсезлеген анализлау ихтыяҗларын канәгатьләндерү өчен.
Ярымүткәргеч физик милек җитешсезлеген анализлау өчен көчле корал буларак, DB-FIB нанометр төгәллеге белән тоташ нокта кисемтәләрен эшкәртә ала.FIB эшкәртү белән бер үк вакытта, нанометр резолюциясе булган сканерлау электрон нуры кисемтәләрнең микроскопик морфологиясен күзәтү һәм композицияне реаль вакытта анализлау өчен кулланылырга мөмкин.Төрле металл материаллар (вольфрам, платина һ.б.) һәм металл булмаган материаллар (углерод, SiO2) туплануга ирешү;TEM ультра-нечкә кисәкләр шулай ук билгеле ноктада әзерләнергә мөмкин, алар атом дәрәҗәсендә ультра югары резолюция күзәтү таләпләренә җавап бирә ала.
Без алдынгы электрон микроанализ җиһазларына инвестицияләр салуны дәвам итәрбез, ярымүткәргеч җитешсезлеген анализлау белән бәйле мөмкинлекләрне өзлексез яхшыртачакбыз һәм киңәйтәчәкбез, клиентларга җентекле һәм комплекслы уңышсызлык анализы чишелешләре тәкъдим итәрбез.
Пост вакыты: 14-2024 апрель