Деструктив физик анализ
Хезмәт белән таныштыру
GRGT пассив компонентларны, дискрет җайланмаларны һәм интеграль схемаларны үз эченә алган компонентларның җимергеч физик анализын бирә.
Алга киткән ярымүткәргеч процесслар өчен, DPA мөмкинлекләре 7нмнан түбән чипларны каплый, проблемалар билгеле чип катламында яисә ум диапазонында бикләнергә мөмкин;су парларын контрольдә тоту таләпләре булган аэрокосмик дәрәҗәдәге һава мөһерләү компонентлары өчен, PPM дәрәҗәсендәге эчке су парларының составын анализлау һава мөһерләү компонентларының махсус куллану таләпләрен тәэмин итү өчен ясалырга мөмкин.
Хезмәт күрсәтү күләме
Интеграль схема чиплары, электрон компонентлар, дискрет җайланмалар, электромеханик җайланмалар, кабельләр һәм тоташтыручылар, микропроцессорлар, программалаштырыла торган логик җайланмалар, хәтер, AD / DA, автобус интерфейслары, гомуми санлы схемалар, аналог ачкычлар, аналог җайланмалар, микродулкынлы җайланмалар, электр белән тәэмин итү һ.б.
Тест стандартлары
● GJB128A-97 Ярымүткәргеч дискрет җайланма сынау ысулы
J GJB360A-96 электрон һәм электр компонентларын сынау ысулы
● GJB548B-2005 Микроэлектрон җайланма сынау ысуллары һәм процедуралары
● GJB7243-2011 Хәрби электрон компонентлар өчен техник таләпләр
Military GJB40247A-2006 Хәрби электрон компонентлар өчен җимергеч физик анализ ысулы
● QJ10003—2008 Импортланган компонентлар өчен скринка кулланмасы
● MIL-STD-750D ярымүткәргеч дискрет җайланма сынау ысулы
● MIL-STD-883G микроэлектрон җайланма сынау ысуллары һәм процедуралары
Тест пунктлары
| Тест төре | Тест пунктлары |
| Деструктив булмаган әйберләр | Тышкы визуаль тикшерү, рентген инспекциясе, PIND, мөһерләү, терминал көче, акустик микроскоп тикшерүе |
| Rимергеч әйбер | Лазерлы де-капсуляция, химик электрон капсуляция, эчке газ составын анализлау, эчке визуаль инспекция, SEM инспекциясе, бәйләү көче, кыру көче, ябыштыргыч көче, чип деламинациясе, субстрат инспекциясе, PN чишелешен буяу, DB FIB, кайнар нокталарны ачыклау, агып чыгу урыны. ачыклау, кратерны ачыклау, ESD тесты |
