DB-FIB
Хезмәт белән таныштыру
Хәзерге вакытта DB-FIB (Dual Beam Focused Ion Beam) тикшеренүләр һәм продуктларны тикшерүдә киң кулланыла:
Керамика материаллары ，Полимерлар ，Металл материаллар ，Биологик тикшеренүләр ，Ярымүткәргечләр ，Геология
Хезмәт күрсәтү күләме
Ярымүткәргеч материаллар, органик кечкенә молекула материаллары, полимер материаллар, органик / органик булмаган гибрид материаллар, органик булмаган металл булмаган материаллар
Хезмәт күрсәтү
Ярымүткәргеч электрониканың һәм интеграль челтәр технологияләренең тиз үсүе белән, җайланма һәм схема структураларының катлаулылыгы микроэлектрон чип процессына диагностика, уңышсызлык анализы, микро / нано җитештерү таләпләрен күтәрде.Dual Beam FIB-SEM системасы, көчле төгәл эшкәртү һәм микроскопик анализ мөмкинлекләре белән, микроэлектрон дизайнда һәм җитештерүдә алыштыргысыз булып китте.
Dual Beam FIB-SEM системасыФокуслы Ион нурын (FIB) һәм Сканерлау электрон микроскопын (SEM) берләштерә. Бу FIB нигезендәге микромахин процессларын реаль вакытта SEM күзәтергә мөмкинлек бирә, электрон нурның югары киңлек резолюциясен ион нурының төгәл эшкәртү мөмкинлекләрен берләштерә.
Хезмәт күрсәтү әйберләре
Сайт- Аерым кисемтәләргә әзерлек
TEM үрнәге сурәтләү һәм анализ
Sсайлап алу яки көчәйтелгән эфир тикшерүе
MЭтал һәм изоляцион катламны урнаштыру тесты
БәйләнешлеПродуктлар
-
Телефон
-
Электрон почта
-
.Гары